Погребняк, А.Д.; Свириденко, Н.В.; Курода, С.; Тюрин, Ю.Н.; Ердыбаева, Н.К.; Кульментева, О.П.
(Физическая инженерия поверхности, 2006)
С помощью Резерфордовского обратного рассеяния ионов гелия (РОР) и пучка протонов,
растровой электронной микроскопии (РЭМ) с микроанализом (WDS), рентгенофазового
анализа (РФА), измерения микротвердости и измерения износа ...